Perbandingan Prestasi antara Carta Kawalan Pensampelan Berganda Sintetik dan Larian Kumpulan Sensitif Sampingan
Abstract
Carta pensampelan berganda sintetik (SDS) merupakan gabungan carta pensampelan berganda (DS) dan carta larian patuh (CRL) manakala carta larian kumpulan sensitif sampingan (SSGR) pula merupakan versi lanjutan carta larian kumpulan (GR) yang mempunyai ciri sensitif sampingan dan merupakan gabungan carta Shewhart dan versi lanjutan carta CRL. Kajian ini dijalankan untuk membandingkan prestasi antara carta SDS dan carta SSGR. Prestasi bagi carta SDS dan SSGR dibandingkan dengan memerhati nilai-nilai panjang larian purata (ARL) bagi kedua-dua carta pada kombinasi saiz sampel (n) dan anjakan proses yang berbeza pada ARL terkawal, . Hasil kajian menunjukkan secara majoritinya bahawa carta SDS mempunyai prestasi yang lebih baik daripada carta SSGR. Namun demikian, terdapat kes di mana prestasi bagi kedua-dua carta adalah sama. Sebagai contoh, apabila jenis peralihan besar pada ke semua saiz sampel dan juga kes di mana carta SSGR mempunyai prestasi yang lebih baik daripada carta SDS bagi jenis peralihan kecil dan sederhana pada kombinasi parameter saiz sampel n =7 dan 9 bersama = 1.5.
References
Colosimo, B. M. & Pacella, M. (2010). A comparison study of control charts for statistical monitoring of functional data. International Journal of Production Research, 48(6), 1575-1601.
Gadre, M. P., & Rattihalli, R. N. (2007). A side sensitive group runs control chart for detecting shifts in the process mean. Statistical Methods and Applications, 16(1), 27–37.
James, R. E. & William, M. L. (2002). The Management and Control of Quality. 5th ed. Thomson Learning: South Western.
Khoo, M. B. C., Lee, H. C., Wu, Z., Chen, C. H., & Castagliola, P. (2010). A synthetic double sampling control chart for the process mean. IIE Transactions, 43(1), 23–28.
Montgomery, D. C. (2013). Introduction to Statistical Quality Control. Introduction to Statistical Quality Control. New York: Wiley.
Wu, Z., & Spedding, T. A. (2000). A synthetic control chart for detecting small shifts in the process mean. Journal of Quality Technology, 32(1), 32–38.
You, H. W. (2018). Optimal estimated process parameters side sensitive group runs chart based on expected average run length. Heliyon, e00848, doi: 10.1016/j.heliyon.2018.e00848